×

Автор РИД: Даутов Анвар Ибрагимович

Показаны записи 1-1 из 1.
10.02.2015
№216.013.2252

Способ определения толщины покрытия в ходе процесса плазменно-электролитического оксидирования

Использование: для определения толщины покрытия в ходе процесса плазменно-электролитического оксидирования. Сущность изобретения заключается в том, что выполняют измерение амплитуды анодного импульсного поляризационного напряжения U, при этом определяют длительность τ спада напряжения до...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002540239
Дата охранного документа: 10.02.2015
+ добавить свой РИД