×

Автор РИД: Пономарев Денис Викторович

Показаны записи 1-3 из 3.
26.08.2017
№217.015.d7f7

Способ измерения параметров полупроводниковых структур

Использование: для одновременного определения толщины полуизолирующей подложки, толщины и удельной электропроводности нанесенного на нее сильнолегированного слоя и подвижности свободных носителей заряда в этом слое. Сущность изобретения заключается в том, что способ определения параметров...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002622600
Дата охранного документа: 16.06.2017
13.01.2017
№217.015.833b

Волноводная согласованная нагрузка

Изобретение относится к области радиотехники и радиоэлектроники и может быть использовано для поглощения электромагнитного излучения на выходе сверхвысокочастного волноведущего тракта, а также входить в состав сложных сверхвысокочастотных функциональных узлов и устройств. Волноводная...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002601612
Дата охранного документа: 10.11.2016
27.05.2014
№216.012.c8ea

Способ определения электропроводности и толщины полупроводниковых пластин или нанометровых полупроводниковых слоев в структурах "полупроводниковый слой - полупроводниковая подложка"

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике. Технический результат - расширение функциональных возможностей одновременного определения электропроводности и толщины полупроводниковых пластин и электропроводности и толщины тонких полупроводниковых эпитаксиальных слоев в структурах...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002517200
Дата охранного документа: 27.05.2014
+ добавить свой РИД