Автор РИД: Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский институт оптико-электронного приборостроения" (ОАО "НИИ ОЭП")

Изобретение относится к средствам обработки изображений. Техническим результатом является повышение точности определения пространственного сдвига изображений одной и той же сцены. В способе приводят изображения к одинаковому числу строк и столбцов, выбирают признаковые пространства для первого...

Изобретение относится к способу автоматизированного определения разрешающей способности фотоаппарата и набору кольцевых мир для его осуществления. В способе получают изображение в цифровом виде одного ракурса и масштаба с использованием набора кольцевых мир, имеющих реперные кружки, при...

Изобретение может быть использовано в прицельно-обзорных оптико-электронных системах, в частности, в теплопеленгаторах кругового обзора с матричным фотоприемным устройством. Достигаемый технический результат изобретения - обзор пространства оптико-электронной системой с высокой кадровой...

Изобретение относится к области оптико-электронного приборостроения. Достигаемый технический результат - обеспечение сканирования заданной зоны пространства с высокой кадровой частотой, уменьшение времени обзора при обеспечении высокого углового разрешения и пороговой чувствительности, при этом...

Группа изобретений относится к оборонной технике. При способе противодействия оптико-электронным системам с лазерным наведением (ОЭСЛН) регистрируют облучающие лазерные импульсы и генерируют помеховые лазерные импульсы определенным способом сразу после регистрации каждого облучающего лазерного...

Группа изобретений относится к области лазерной локации, лазерной связи, а также к системам доставки лазерного излучения на движущийся объект. Технический результат состоит в повышении точности наведения и доставки лазерного излучения на движущийся объект. Для этого на движущийся объект...

Изобретение относится к области силовой лазерной оптики и касается способа определения плотности дефектов поверхности оптической детали. Способ включает в себя облучение участков поверхности оптической детали пучком импульсного лазерного излучения с гауссовым распределением интенсивности,...