×

Автор РИД: Мешкова Мария Александровна

Показаны записи 1-1 из 1.
10.04.2014
№216.012.b35d

Способ отбраковки полупроводниковых изделий пониженного уровня качества из партий изделий повышенной надежности

Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к способам обеспечения надежности полупроводниковых изделий (ППИ) (транзисторов и интегральных схем), и может быть использовано для обеспечения повышенной надежности партий изделий как на этапе производства, так и на входном контроле на...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002511633
Дата охранного документа: 10.04.2014
+ добавить свой РИД