×

Автор РИД: Алексеев Алексей Валентинович

Показаны записи 1-7 из 7.
10.05.2014
№216.012.c202

Способ контроля дефектности эпитаксиальных слоев кремния на диэлектрических подложках

Изобретение относится к области измерительной техники, а именно к неразрушающим методам контроля структурного совершенства эпитаксиальных слоев кремния, выращенных на диэлектрических подложках, и может быть использовано в технологии микроэлектроники для контроля качества эпитаксиальных слоев...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002515415
Дата охранного документа: 10.05.2014
10.10.2013
№216.012.74a0

Гибкий фотоэлектрический модуль

Изобретение относится к области солнечной энергетики, в частности к гибким фотоэлектрическим модулям, которые могут быть использованы в качестве источников электричества в системах энергообеспечения различных объектов - автомобилей, катеров, яхт, пунктов метеонаблюдения, телекоммуникационных...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002495513
Дата охранного документа: 10.10.2013
20.09.2013
№216.012.6d4e

Гибкий фотоэлектрический модуль

Изобретение относится к области солнечной энергетики, в частности к гибким фотоэлектрическим модулям, которые, помимо основной функции - генерации фототоэлектричества, могут использоваться в качестве элементов промышленного и строительного дизайна, подвергающихся упругой деформации в продольном...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002493633
Дата охранного документа: 20.09.2013
27.06.2013
№216.012.522c

Способ контроля времени жизни неосновных носителей заряда в слитках кремния

Изобретение относится к области измерительной техники, а именно к области неразрушающих методов контроля параметров полупроводниковых материалов с использованием зондирующего электромагнитного излучения, и может быть использовано для определения времени жизни неосновных носителей заряда в...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002486629
Дата охранного документа: 27.06.2013
27.06.2013
№216.012.522d

Способ выявления структурных дефектов в кремнии

Изобретение относится к области измерительной техники, а именно к области неразрушающего контроля параметров полупроводниковых материалов, и может быть использовано для выявления и анализа структурных дефектов в кремниевых слитках перед разрезанием слитков на пластины. Способ включает облучение...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002486630
Дата охранного документа: 27.06.2013
10.06.2013
№216.012.4a1b

Способ измерения времени жизни неосновных носителей заряда в кремнии

Изобретение относится к области измерительной техники, а именно к области неразрушающих методов контроля параметров полупроводниковых материалов с использованием зондирующего электромагнитного излучения и может быть использовано для определения времени жизни неосновных носителей заряда в...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002484551
Дата охранного документа: 10.06.2013
27.02.2013
№216.012.2ca7

Способ определения вольтамперных характеристик солнечных элементов на симуляторе солнечного излучения

Изобретение области измерений электрофизических параметров солнечных элементов на основе применения устройств, позволяющих имитировать (симулировать) реальное солнечное излучение искусственными источниками света вместе с необходимой и встроенной в устройство электронной аппаратурой для...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002476958
Дата охранного документа: 27.02.2013
+ добавить свой РИД