×

Автор РИД: Яремчук Александр Федотович

Показаны записи 1-3 из 3.
10.05.2014
№216.012.c202

Способ контроля дефектности эпитаксиальных слоев кремния на диэлектрических подложках

Изобретение относится к области измерительной техники, а именно к неразрушающим методам контроля структурного совершенства эпитаксиальных слоев кремния, выращенных на диэлектрических подложках, и может быть использовано в технологии микроэлектроники для контроля качества эпитаксиальных слоев...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002515415
Дата охранного документа: 10.05.2014
27.02.2013
№216.012.2ca7

Способ определения вольтамперных характеристик солнечных элементов на симуляторе солнечного излучения

Изобретение области измерений электрофизических параметров солнечных элементов на основе применения устройств, позволяющих имитировать (симулировать) реальное солнечное излучение искусственными источниками света вместе с необходимой и встроенной в устройство электронной аппаратурой для...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002476958
Дата охранного документа: 27.02.2013
27.01.2013
№216.012.201a

Способ получения кристаллов кремния

Изобретение относится к технологии получения монокристаллов кремния способом Чохральского или мультикристаллов кремния методом направленной кристаллизации, которые в дальнейшем служат материалом для производства солнечных элементов и батарей (модулей) с улучшенными эксплуатационными...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002473719
Дата охранного документа: 27.01.2013
+ добавить свой РИД